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JTAG (Joint Test Action Group)

JTAG(Joint Test Action Group)是國際標準測試協議(IEEE 1149.1),主要用於晶片內部測試;多數進階元件(如 DSP、FPGA)支援此協議。標準介面含 TCK、TMS、TDI、TDO 與 TRST:前四者為輸入、TDO 為輸出。原理是在元件內定義 TAP(Test Access Port),再以專用 JTAG 工具測試內部節點。

啟用 cJTAG 時 TDI/TDO 欄位停用(Disable),TCK/TMS 視為 OScan1 的 TCKC/TMSC。若使用解釋指令,是否需要 TRST 會依選定指令表決定。通道前綴差異見 Settings。

Decode Settings

Decode Settings

JTAG Decode Settings
  • 通道: 指定 TCK/TMS/TDI/TDO/TRST。TRST 可選用;勾選時欄位啟用(Enable)勾選 TRST。
  • cJTAG: 啟用後 TDI/TDO 欄位停用(Disable),TCK/TMS 作 TCKC/TMSC。Default 為未勾選。

JTAG Advanced

進階設定
  • 選擇顯示測試資料 (Test data): TAP 為 Shift-IR/Shift-DR 時,以十六進制顯示 TDI 或 TDO。Default 為顯示 TDO。
    • 測試資料位元方向: LSB First/MSB First(長度可能不定)。Default 為索引 0(LSB First)。
    • 解釋指令: 勾選時欄位啟用(Enable)指令列表;於 Update-IR 顯示指令暫存器內容。可「編輯…」修改 JtagInst.txt,再「刷新」。Default 為勾選。
    • Acute Jtag Instruction table (JtagInst.txt): 由 Jtag DLL 提供,可自行編輯;亦支援直接加入 BSDL 以省去手編指令。語法見下方附錄。

JTAG Report

報告顯示設定
  • Show TDI or/and TDO: 選 Show TDI and TDO 時報告同時顯示兩者。Default 為 Show 1 data(非 Show all)。
  • TAP state 顯示: 各 TAP 狀態勾選項。Default 皆為勾選。

Result

JTAG Result

JTAG 解碼結果

附錄:Acute Jtag Instruction table 語法(JtagInst.txt)

本檔數字皆為十六進制。

  • ##:註解。
  • #ID:指令列表編號(00–FF),須循序建立;跳號即視為結束。
  • #NAME:指令集名稱(設定畫面列表,最長 32 bytes)。
  • #LENGTH:指令長度(bit)。
  • #CAPTURE:Capture-IR 時填入指令暫存器的 Capture 碼。
  • #INST:指令表;參數為指令碼、指令名稱(最長 32 bytes)。#INST: 後無參數表示結束。
  • #TRST:是否需要 TRST(1=需要;0 或不填=不需要)。
  • #BSDL:BSDL 完整路徑;解析項目同上。

範例:

#ID:00
#NAME:ARM7-ARM9
#LENGTH:4
#CAPTURE:1
#INST:0, EXTEST
#INST:2, SCAN_N
#INST:3, SAMPLE/PRELOAD
#INST:4, RESTART
#INST:5, CLAMP
#INST:7, HIGHZ
#INST:9, CLAMPZ
#INST:C, INTEST
#INST:E, IDCODE
#INST:F, BYPASS
#INST:
#ID:01
#BSDL:C:\3256at144_1532.bsd